X線頭影測量(cephalometrics)，主要是測量X線頭顱定位照相所得的影像，對牙頜、顱面各標志點描繪出一定的線角進行測量分析，從而了解牙頜、顱面軟硬組織的結構，使對牙頜、顱面的檢查、診斷由表面形態(tài)深入到內(nèi)部的骨骼結構中去。

X線頭影測量的作用：

1.研究顱面生長發(fā)育。

2.牙頜、顱面畸形的診斷分析。

3.確定錯（牙合）畸形的矯治設計。

4.研究矯治過程中及矯治后的牙頜、顱面形態(tài)結構變化。

5.外科正畸的診斷和矯治設計。

6.下頜功能分析。

經(jīng)典例題：

X線頭影測量可做如下分析，除了

A.顱面部生長發(fā)育

B.雙側髁突對稱性

C.牙、顱面畸形的診斷分析

D.外科正畸的診斷和分析

E.矯治前后，顱面結構變化

【正確答案】B

【答案解析】X線頭影測量可做如下分析：①研究顱面生長發(fā)育：②牙、顱面畸形的診斷分析；③確定錯（牙合）畸形的矯治設計；④研究矯治過程中及矯治后的牙、頜、顱面形態(tài)結構變化；⑤外科正畸的診斷和矯治設計；⑥下頜功能分析。

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